「半導体チップのナノスケール欠陥を分析、AI活用の電子ビーム装置を発表:FAニュース - MONOist」

Applied Materials(アプライド マテリアルズ)は、半導体チップのナノスケールの欠陥を分析できる電子ビーム装置「SEMVision H20」を発表した。数十億ものナノスケール回路パターンに潜在する微細な欠陥を、的確かつ迅速に分析できる。

Applied Materials(アプライド マテリアルズ)は、半導体チップのナノスケールの欠陥を分析できる電子ビーム装置「SEMVision H20」を発表した。数十億ものナノスケール回路パターンに潜在する微細な欠陥を、的確かつ迅速に分析できる。

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2025-03-13 17:08:11

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